晶圆缺陷检测系统LODAS
列真公司在半导体光罩检测设备上积累了独自技术， 主产品 LODAS ™系列具有日本专利权的激光检测技术，可同时探测收集激光的反射光，透射光以及共聚焦，可一次性检查第三代半导体 SIC 等材料表面，背面和内部的缺陷，可探测最小缺陷为10
费休氏水分测定仪
S-300费休氏水分测定仪水分测定仪是禾业科技历时一年多研发的一款全自动卡尔费休水分测定仪，具有测量精度高，重复性好，质量稳定等特点,广泛适用于化工，制药，食品，科研院所等单位的水分测定应用。
德国CMC微量水分析仪TMA-210-P-Ex
德国CMC微量水分析仪五氧化二磷传感器利用电解水分子为氢气与氧气原理，尤其适合高纯酸气如Cl2、HCl、SO2、H2S 等气体微量水分测量（极少数会同磷酸发生化学反应的气体除外）。