倒置金相三目显微镜(带偏光)
适用于金相、岩相、矿相、晶体组织结构分析和鉴别。也可用于观察材料表面的某些特性。如:划痕、裂纹、喷涂的均匀性等. 总放大倍数:40X-1000X
三目正置金相显微镜 53X
53X型镜用于观察金属、硅片等反射标本的表面结构。可在工矿或实验室进行金属材料质量检验,金属零件处理后的金相组织分析,硅片光刻过程中图形质量的检验及其它反射标本表面微细结构的观察,也可观察具有一定反射的透明标本的表面结构。
MDJ系列倒置金相显微镜
■ 平台升降调焦设计方案,使显微镜镜体结构更合理,观察图像更舒服■ MDJ-DM内置一体化数码设计思想,使系统更稳定,成像更清晰■ 支持数码互动显微通道,可扩展为金相数码显微互动教学系统■ 国内首创3W-LED冷光源照明,高亮度、长寿命、无发热
倒置三目金相显微镜
4XC型金相显微镜主要用于鉴定和分析金属内部结构组织,或用于观察材料表面的某些特性,如:划痕、裂纹、喷涂的均匀性等。 总放大倍数:100X-1000X
硅芯片检查显微镜LW300MT
LW300MT硅芯片检查显微镜专为微电子行业量身定做,适用于硅、砷化镓、磷化铟等基片6″8″盘的生产工艺检查;可以方便的快移和精确的位移检查;也可以适用其它需较大面积标本的工艺检查。
数码型倒置金相显微镜4XDC-T
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金相显微镜
BA210Met是电子、金属材料、矿物、地质、精密工程等检查、分析及研究的必备仪器,适用于教学、科研、工业等领域。 采用同轴垂直照明系统,很好的消除了杂散光,从而大大提高成像的对比度(衬度)和清晰度。